韓國奔創(chuàng)在線式3DAOI 3D自動光學(xué)檢測設(shè)備 3D高速度檢測測量

設(shè)備名稱：在線式3D全自動光學(xué)檢測系統(tǒng)

設(shè)備型號：ATHENA L

設(shè)備品牌：韓國奔創(chuàng)

設(shè)備產(chǎn)地：韓國

一、關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢

1、離線實時調(diào)試系統(tǒng)（選項）

2、遠心鏡頭提供高精確度檢測

3、簡單明了的用戶界面

4、8+4投射+3層2D光源

5、內(nèi)置標準元件庫管理系統(tǒng)

6、2D 和 3D 同步檢測算法

7、高配置CPU足以保證圖像快速處理

二、完善的測量方案 - 使用側(cè)面相機可以更精準更便捷地測試

通過四個高清攝像頭和TOP攝像頭，使用針對側(cè)面檢測的專用優(yōu)化算法進行實時檢查。

4方向側(cè)面相機（選配）

可檢測到只使用正面相機無法檢測的引腳內(nèi)部短路

可檢測到連接器內(nèi)部區(qū)域

使用已有的算法快速教學(xué)

三、先進的高速度檢測和測量技術(shù)

1、高速檢測技術(shù)

ATHENA采用先進的算法，使用先進強大的影像處理器、控制器和自主專項開發(fā)的10MP、15um、 180fps遠心鏡頭相機，實現(xiàn)高速、穩(wěn)定的測試。

2、高元件檢測技術(shù)

ATHENA采用全新的8+4方向3D投射技術(shù)，可提供業(yè)界領(lǐng)先的27mm元件高度的全方位3D檢測，選配Z軸，最高可以檢測60mm高度的元件。

3、無陰影高速檢測和測量技術(shù)

在Pemtron錫膏檢測系統(tǒng)中已使用超過10年的PMP相位測量技術(shù)（莫爾條紋），擁有豐富的3D圖像處理和檢測經(jīng)驗。

ATHENA 系列 3D AOI配備100萬像素相機和8+4投射系統(tǒng)，對PCB進行100%的2D和3D全檢，保障完全無陰影光學(xué)檢測和低誤報率，并保持高度靈活性的系統(tǒng)功能。

4、無陰影 3D 技術(shù)

環(huán)狀光源和多投射系統(tǒng)能完全消除高密度元件和高元件對PCB產(chǎn)生的陰影影響。

5、3D 焊錫高度測量

利用Pemtron先進的3D技術(shù)，ATHENA能夠檢測到傳統(tǒng)2D AOI無法到達的區(qū)域，增加了焊錫高度、體積和元件共面性的測試項目，大大提高了對不良產(chǎn)品的檢測能力。

6、3D 引腳檢測

ATHENA能夠檢測引腳的焊錫高度和體積，并且提供高質(zhì)量的真彩色3D圖像。

7、2D RGB 算法

通過RGB顏色區(qū)分，使操作者能更輕松地區(qū)分空焊、翹腳等不良。

利用光學(xué)彩色抽色及建立樣板比對的原理識別元件的Part Name，能夠增加和修改OCR字體來優(yōu)化Part Name的檢測條件，更好地識別字體。

托普科實業(yè)專注23年以上的SMT設(shè)備經(jīng)驗，為電子制造商提供SMT設(shè)備: 各大品牌SMT貼片機、錫膏印刷機、奔創(chuàng)3D SPl和3D AOI、HELLER真空回流焊、全自動化設(shè)備、SMT生產(chǎn)線設(shè)備，SMT飛達等一站式服務(wù)和解決方案。